기술명(국문) |
에이징을 감시하는 반도체 집적회로 및 그 방법 |
기술명(영문) |
SEMICONDUCTOR IC MONITORING AGING AND METHOD THEREOF |
관련산업 |
측정, 시험, 향해, 제어, 및 기타 정밀기기 제조업 |
기술개요 및 특징 |
본 발명은 반도체 집적회로의 에이징을 감시하는 기술에 관한 것이다. 본 발명은 코어; 및 정상 동작 중인 상기 코어로 인가되는 클락의 듀티 사이클을 조정하여 상기 코어로부터 에이징 감시 데이터를 획득하고, 획득한 상기 에이징 감시 데이터를 토대로 상기 코어의 에이징 여부를 판단하는 에이징 감시 회로를 포함하여 SoC 등의 반도체 집적회로에 대해 반도체 집적회로의 정상 동작 중 반도체 집적회로의 에이징을 실시간으로 감시할 수 있다. |
기술구분 |
특허 |
IPC구분 |
G01R 31/28 |
출원번호 |
10-2014-0143103 |
등록번호 |
10-1679375-0000 |
권리자(출원인)(권리자 정보는 등록원부와 다를 수 있습니다) |
한밭대학교 산학협력단 |
희망거래 유형 |
기술매매 |
기술이전조건 |
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기술이전금액 |
3,000~5,000만원이하 |
판매 희망자 |
기업 |
파일첨부 |
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