| 기술명(국문) | 개선된 베버의 법칙을 이용한 얼룩 결함 자동 검출 시스템 및 방법 |
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| 기술명(영문) | System and Method for Automatically Detecting a Mura Defect using Advanced Weber''s Law |
| 관련산업 | 전자부품 제조업 |
| 기술개요 및 특징 | 본 발명은 개선된 베버의 법칙을 이용한 얼룩 결함 자동 검출 시스템 및 방법에 관한 것으로서, 대상물의 이미지를 취득하는 영상 획득부, 상기 영상 획득부에서 취득한 상기 이미지를 그레이 레벨로 변환하는 영상 처리부 및 상기 영상 처리부에서 변환된 상기 이미지의 이미지 히스토그램에 베버의 법칙을 적용하여 상기 대상물의 얼룩 결함을 자동으로 추출하는 영상 해석부를 포함함으로써, 높은 검출률과 높은 신뢰도를 갖는 얼룩 결함 자동 검출 시스템 및 방법을 제공할 수 있다. |
| 기술구분 | 특허 |
| IPC구분 | G02F 1/13 |
| 출원번호 | 10-2014-0153067 |
| 등록번호 | 10-1608843-0000 |
| 권리자(출원인)(권리자 정보는 등록원부와 다를 수 있습니다) | 한밭대학교 산학협력단 |
| 희망거래 유형 | 기술매매 |
| 기술이전조건 | |
| 기술이전금액 | 3,000~5,000만원이하 |
| 판매 희망자 | 기업 |
| 파일첨부 |
| 등록일 | 2018-06-05 |
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| 접수상태 |
